說明:
丹青科技 Werth 血管支架測量系統(tǒng),精準(zhǔn)賦能醫(yī)療創(chuàng)新血管支架的精度與質(zhì)量直接關(guān)乎患者生命安全,而精準(zhǔn)測量是保障支架品質(zhì)的核心。傳統(tǒng)測量效率低、誤差大的痛點(diǎn),長期困擾醫(yī)療器械企業(yè)研發(fā)與生產(chǎn)。您是否遇到過這些情況:? 血管支架檢測耗時(shí)太長,拖慢整體研發(fā)節(jié)奏?? 傳統(tǒng)測量方法受環(huán)境干擾大,數(shù)據(jù)穩(wěn)定性差?? 復(fù)雜結(jié)構(gòu)尺寸難測準(zhǔn),影響產(chǎn)品良率?如今,丹青科技 Werth 血管支架快速測量技術(shù),以創(chuàng)新配置、精準(zhǔn)算法與高效性能,為國內(nèi)醫(yī)療器械企業(yè)帶來測量解決方案的全新升級,助力醫(yī)療科技產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展!1、核心配置 + 創(chuàng)新模式,破解行業(yè)測量痛點(diǎn)該系統(tǒng)搭載雙軸轉(zhuǎn)臺 + 飛行測量模式,支架固定在透明磨砂玻璃芯棒上,轉(zhuǎn)臺穩(wěn)定旋轉(zhuǎn)并沿軸向柵格掃描、三維拼接,無需頻繁啟停。變焦光學(xué)系統(tǒng) + 探針系統(tǒng)可靈活切換視野,大視野適配大直徑支架快速測量,小視野聚焦精細(xì)結(jié)構(gòu)降低誤差,5mm-20mm 支架測量誤差均達(dá)微米級。2、黑科技加持,數(shù)據(jù)精準(zhǔn)度再升級測量環(huán)境干擾與數(shù)據(jù)處理難題,曾是行業(yè)公認(rèn)的 “攔路虎”。Werth 系統(tǒng)憑借多項(xiàng)創(chuàng)新技術(shù),給出完美答案:? 極短曝光時(shí)間 + 可選閃光燈模式,有效消除運(yùn)動(dòng)偽影與外界光線干擾,車間復(fù)雜環(huán)境下也能穩(wěn)定輸出真實(shí)數(shù)據(jù);? 二維圖像三維疊加計(jì)算 + 3D 轉(zhuǎn) 2D 柵格拼接技術(shù),實(shí)現(xiàn) 360°-720° 全方位數(shù)據(jù)覆蓋,結(jié)合先進(jìn) 2D 擬合算法,精準(zhǔn)還原支架真實(shí)形態(tài);? 主動(dòng)跟蹤被測工件模式,實(shí)時(shí)適配工件微小位移,始終保持最佳測量姿態(tài),進(jìn)一步保障數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性。在醫(yī)療創(chuàng)新日新月異的今天,測量效率就是研發(fā)速度,測量精度就是患者安全。丹青科技 Werth多傳感器坐標(biāo)測量技術(shù),用事實(shí)證明:好技術(shù)不僅要“測得準(zhǔn)”,更要“測得快”、“測得穩(wěn)”。
說明:
Sycopro 3智能校準(zhǔn)系統(tǒng)|連接零煩惱,合規(guī)不費(fèi)力校準(zhǔn)黨狂喜!終于不用再為這些糟心事頭大啦 傳統(tǒng)計(jì)量校準(zhǔn)的那些難題,每一個(gè)都在消耗你的時(shí) 間與精力:校準(zhǔn)10臺不同品牌的卡尺,要切換3種軟件、手動(dòng)錄入200+組數(shù)據(jù),加班到深夜還怕輸錯(cuò)一個(gè)數(shù)字;審計(jì)時(shí)翻找半年前的校準(zhǔn)證書,翻遍 電腦文件夾都找不到,合規(guī)風(fēng)險(xiǎn)拉滿;批量儀器校準(zhǔn)排隊(duì)久,耽誤生產(chǎn)進(jìn)度;校準(zhǔn)數(shù)據(jù)分散在不同設(shè)備,無法統(tǒng)一管理,數(shù)字化轉(zhuǎn)型舉步維艱……這些痛點(diǎn),Sycopro 3 一次性幫你解決!作為Sylvac 推出的智能校準(zhǔn)管理系統(tǒng),它堪稱精密計(jì)量領(lǐng)域的 「效率神器」,讓校準(zhǔn)工作從此化繁為簡、輕松拿捏。全品牌通吃。設(shè)備連接零煩惱、秒適配。不管是Sylvac自家的千分尺、卡尺,還是市面上主流的第三方品牌測量設(shè)備,Sycopro 3 統(tǒng)統(tǒng)兼容!支持有線/無線自由連接,無需額外適配軟 件、即連即用,跨品牌儀器校準(zhǔn)流程一站搞定,再也不用為設(shè)備適配發(fā)愁,充分保護(hù)你現(xiàn)有測量設(shè)備投資。證書自動(dòng)生成,合規(guī)審核躺贏不費(fèi)力。內(nèi)置ISO 17025標(biāo)準(zhǔn)模板,校準(zhǔn)數(shù)據(jù)自動(dòng)計(jì)算、證 書一鍵生成,還支持企業(yè)個(gè)性化定制。數(shù)據(jù)精準(zhǔn)可 溯源,每一份證書都符合質(zhì)量體系審核要求,徹底 告別手動(dòng)制表的低效與失誤,讓合規(guī)審核更輕松。云端同步+全追溯,數(shù)據(jù)安全又省心。通過mySylvac平臺實(shí)現(xiàn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)云端同步, 儀器校準(zhǔn)歷史、證書記錄全生命周期可查。權(quán)限分級管理,數(shù)據(jù)安全有保障,合規(guī)監(jiān)控從此無憂,助 力企業(yè)實(shí)現(xiàn)計(jì)量數(shù)字化管理。黑科技拉滿,效率飆升30%+ 告別加班。 QR 碼快速 配置 :掃碼即可完成儀器參數(shù)設(shè)置 ,告別復(fù)雜操作; 藍(lán)牙自動(dòng)讀數(shù) :無 線傳輸測量數(shù) 據(jù),減少人工錄入誤差 ; 智能流程優(yōu)化 :校準(zhǔn)步驟自動(dòng)化 ,讓時(shí)間花在更有價(jià)值的地方 。定制化方案,全行業(yè)需求都能精準(zhǔn)適配。無論是航空航天領(lǐng)域0.001mm級的高精度校準(zhǔn)要求,還是汽車零部...
說明:
在、汽車、能源等領(lǐng)域,葉輪作為關(guān)鍵的動(dòng)力傳輸部件,其精確度直接影響到整個(gè)系統(tǒng)的性能和可靠性。今天,我們就以葉輪生產(chǎn)為例,分析瑞士丹青科技Fulcrum手動(dòng)三坐標(biāo)測量系統(tǒng)在葉輪測量中的應(yīng)用。葉輪測量挑戰(zhàn):葉輪設(shè)計(jì)復(fù)雜,翅片數(shù)量多,且形狀精度要求極高。傳統(tǒng)的測量方法存在以下挑戰(zhàn):1、測量效率低:傳統(tǒng)測量方法耗時(shí)較長,難以滿足大規(guī)模生產(chǎn)的需求。2、精度難以保證:由于葉輪結(jié)構(gòu)的復(fù)雜性,傳統(tǒng)測量工具難以達(dá)到高精度要求。3、數(shù)據(jù)處理復(fù)雜:測量數(shù)據(jù)量大,處理過程繁瑣,易出現(xiàn)誤差。Fulcrum解決方案:針對以上挑戰(zhàn),瑞士丹青科技Fulcrum手動(dòng)三坐標(biāo)測量機(jī)提供了一套完整的解決方案。1、快速掃描,提高生產(chǎn)效率使用Fulcrum測量系統(tǒng),葉輪的每個(gè)翅片都能在短時(shí)間內(nèi)完成掃描。相比傳統(tǒng)方法,縮短掃描時(shí)間,大大提高生產(chǎn)效率。2、精確測量,保證產(chǎn)品質(zhì)量Fulcrum的測量精度高達(dá)微米級別,能夠精確捕捉葉輪的每一個(gè)細(xì)節(jié)。掃描過程:Fulcrum磁性夾具模板可快速固定葉輪,確保所有點(diǎn)都可以被精確獲取。啟動(dòng)掃描程序,通過接觸式測量記錄葉輪初始位置特征。數(shù)據(jù)采集:掃描完成后,系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)收集每個(gè)翅片的掃描數(shù)據(jù)。CAD比較:通過Aberlink 3D CAD軟件比較模塊,將實(shí)際掃描數(shù)據(jù)與設(shè)計(jì)CAD模型進(jìn)行對比分析。3、簡化數(shù)據(jù)處理,減少誤差Fulcrum手動(dòng)三坐標(biāo)的數(shù)據(jù)處理軟件具有智能分析功能,能夠自動(dòng)識別并標(biāo)記偏差部分,生成詳細(xì)的測量報(bào)告。以下是數(shù)據(jù)處理的優(yōu)勢:自動(dòng)化:減少了人工干預(yù),降低了數(shù)據(jù)處理過程中的誤差。可視化:通過3D模型直觀展示測量結(jié)果,便于工程師快速識別問題。報(bào)告生成:自動(dòng)生成詳細(xì)的測量報(bào)告,便于質(zhì)量控制和追溯。通過使用Fulcrum手動(dòng)三坐標(biāo)測量儀,可提高生產(chǎn)效率,使得葉輪測量時(shí)間大幅縮短,生產(chǎn)線流轉(zhuǎn)更加流暢。微米級別的測量精度確保葉輪質(zhì)量,減少了因測量不準(zhǔn)確導(dǎo)致的產(chǎn)品報(bào)廢和返工現(xiàn)象,降低...
說明:
汽車零件的精密測量中,有個(gè)讓人頭疼的“規(guī)矩”:基準(zhǔn)必須統(tǒng)一。這意味著,測量轉(zhuǎn)向半軸的核心部件——鐘形殼時(shí),內(nèi)外尺寸必須在同一個(gè)坐標(biāo)系、同一次裝夾下完成。零件一旦轉(zhuǎn)動(dòng)或移動(dòng),數(shù)據(jù)就可能“對不上”,基準(zhǔn)就失效了。為什么這個(gè)規(guī)矩這么“死”?因?yàn)殓娦螝げ皇瞧胀慵K膬?nèi)腔裝著高速旋轉(zhuǎn)的滾珠,承載著行車安全。圖紙白紙黑字要求:內(nèi)腔尺寸必須以外圓為基準(zhǔn)測量。傳統(tǒng)方法遇到一個(gè)現(xiàn)實(shí)困境:要想測內(nèi)外尺寸,就得轉(zhuǎn)動(dòng)零件;但一轉(zhuǎn),坐標(biāo)系就變了。就像你要畫一幅人臉的正側(cè)面像,卻不準(zhǔn)轉(zhuǎn)動(dòng)畫板——幾乎是個(gè)“不可能的任務(wù)”。問題出在測量儀器的“胳膊不夠長”大多數(shù)輪廓儀采用杠桿式傳感器,它的Z軸測量范圍就像人的胳膊長度,有限制。當(dāng)需要測量深度落差大的內(nèi)外特征時(shí),它的“胳膊”夠不著了,Z向范圍普遍≤90mm。工程師只能:測完外圓→移動(dòng)/轉(zhuǎn)動(dòng)零件→重新建立坐標(biāo)系→再測內(nèi)腔。基準(zhǔn)統(tǒng)一?早已在第一步就被打破。丹青Optacom的解法給儀器裝上“可伸縮的云臺”我們換了一條路:坐標(biāo)聯(lián)動(dòng)掃描技術(shù)。如果把測量想象成一次精密“手術(shù)”,Optacom不像傳統(tǒng)設(shè)備那樣只動(dòng)“手術(shù)刀”(測針),而是讓“手術(shù)臺”(坐標(biāo)軸)與“刀”協(xié)同運(yùn)動(dòng)。結(jié)果就是,它的Z向掃描范圍一舉拓展至≥225mm。帶來的改變是根本性的:鐘形殼被裝夾后,就再也不用動(dòng)。巨大的Z向空間允許傳感器自由探入內(nèi)腔深處,完整掃描內(nèi)外輪廓。一次裝夾,一個(gè)坐標(biāo)系,內(nèi)外尺寸全部搞定。圖紙上那個(gè)嚴(yán)格的“基準(zhǔn)統(tǒng)一”要求,從此從理論真正落地。為客戶帶來的,遠(yuǎn)不止“合規(guī)”1. 數(shù)據(jù)真正可信:基準(zhǔn)重合,測量結(jié)果直接反映裝配真實(shí)狀態(tài)。2. 效率大幅躍升:省去重復(fù)定位、坐標(biāo)重置的時(shí)間,檢測周期縮短超50%。3. 操作極度簡化:降低了人員技能要求,特別適合生產(chǎn)現(xiàn)場快速抽檢。4. 安全防線前移:為轉(zhuǎn)向系統(tǒng)這類安全關(guān)鍵件,提供了更可靠、更高效的質(zhì)控手段。測量不僅是判斷合格與否,更是工藝優(yōu)化的眼睛...
說明:
硅晶片在溫度變化過程中的形貌測量快速熱處理(RTP)是硅晶片制造過程中的一個(gè)重要步驟,在這一過程中,晶片會(huì)在短時(shí)間內(nèi)被加熱至高溫,然后以可控的方式緩慢冷卻,以賦予晶片所需的半導(dǎo)體特性。硅晶片在溫度變化過程中的形貌測量對其性能穩(wěn)定性至關(guān)重要。本文將探討瑞士丹青 S neox 三維輪廓測量系統(tǒng)在硅晶片溫度形貌測量方面的突出優(yōu)勢。硅晶片作為一種新型半導(dǎo)體材料,具有高熱導(dǎo)率、高電子遷移率和高穩(wěn)定性等優(yōu)點(diǎn),因此在、汽車電子、可再生能源等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。然而,硅晶片在高溫度環(huán)境下的形貌變化對其性能有著重要影響,因此對其進(jìn)行精確的溫度形貌測量至關(guān)重要。瑞士丹青 S neox 三維輪廓測量系統(tǒng)是一款高精度的非接觸式三維形貌測量儀,能夠在不同溫度下對硅晶片進(jìn)行精確測量。通過采用先進(jìn)的光學(xué)掃描技術(shù),S neox 可以捕捉到晶片表面微小的形貌變化,為科研與生產(chǎn)提供可靠的數(shù)據(jù)支持。產(chǎn)品優(yōu)勢:1、高精度:瑞士丹青S neox 采用內(nèi)先進(jìn)的光學(xué)掃描技術(shù),測量精度高達(dá)納米級別,確保了測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。2、非接觸式測量:避免了對碳化硅晶圓表面的物理損傷,確保了樣品的完整性。3、快速掃描:S neox具有快速掃描功能,能夠在短時(shí)間內(nèi)完成大量樣品的測量,提高工作效率。通過S neox 的精確測量,科研人員和企業(yè)可以更好地了解硅晶片在溫度變化過程中的形貌變化規(guī)律,進(jìn)而優(yōu)化生產(chǎn)工藝,提高產(chǎn)品質(zhì)量。此外,SensoSCAN軟件可協(xié)助自動(dòng)化操作,減少人工干預(yù),提高測量效率和重復(fù)性。瑞士丹青 S neox三維輪廓測量系統(tǒng)作為一款先進(jìn)的三維形貌測量儀,其在硅晶片溫度形貌測量方面具有顯著優(yōu)勢。借助S neox三維輪廓測量系統(tǒng) ,企業(yè)可以更好地掌握產(chǎn)品質(zhì)量,提高生產(chǎn)效率,為我國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展貢獻(xiàn)力量。
說明:
現(xiàn)代半導(dǎo)體制造的目標(biāo)是為便攜式產(chǎn)品開發(fā)具有越來越小和更薄封裝的電子設(shè)備。實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)最重要的步驟之一是通過機(jī)械研磨工藝將加工后的硅晶片從背面減薄至 50μm 以下。為了避免應(yīng)力和亞表面損傷,這對表面粗糙度要求非常高,在最終研磨步驟中,該粗糙度可能在 1 nm Ra 的范圍內(nèi)。測量這一等級的表面粗糙度的常用方法是通過共聚焦顯微鏡 (CFM)、白光干涉儀 (WLI) 或原子力顯微鏡 (AFM) 進(jìn)行單點(diǎn)或是劃線測量。但這些儀器的缺點(diǎn)是對機(jī)械環(huán)境噪聲敏感,測量時(shí)間長。這里,我們將介紹一種新型的散射光測量方法,該方法能夠在不到 30 秒的時(shí)間內(nèi)測量直徑300 mm整個(gè)晶圓表面。除了粗糙度,傳感器還同時(shí)測量翹曲、波紋度和缺陷。同時(shí)將展現(xiàn)采用不同粒度研磨表面的測試結(jié)果分析。 晶圓表面加工工藝過程極小和高密度電子產(chǎn)品的趨勢需要先進(jìn)的工藝來滿足設(shè)備的厚度和熱性能規(guī)格。這意味著處理后的硅晶片必須從其原始厚度超過 700 µm 減薄至 50 µm 或更小。最常見且成本相對較低的減薄方法是通過機(jī)械去除殘余硅的背面研磨。晶片固定在多孔真空吸盤上,IC(集成電路)面朝下。砂輪的旋轉(zhuǎn)軸與晶片的旋轉(zhuǎn)軸離軸定位(距離是晶片的半徑)。卡盤呈略呈圓錐形的形狀,以很小的傾斜度使晶片變形,以確保砂輪在研磨過程中僅接觸晶片的一半。由于卡盤的旋轉(zhuǎn)和砂輪的同時(shí)旋轉(zhuǎn),在晶片表面上產(chǎn)生了典型的螺旋劃痕圖案。根據(jù)砂輪的粒度以及轉(zhuǎn)速和進(jìn)給率等加工參數(shù),這種機(jī)械沖擊是造成粗糙度、應(yīng)力和誘發(fā)亞表面損傷的原因。因此,現(xiàn)代晶圓磨床從粗砂輪開始,先是快速去除多余硅,最后使用小粒度砂輪進(jìn)行精細(xì)研磨。當(dāng)減薄至 50 µm 以最大程度地減少次表面損傷和應(yīng)力時(shí),這個(gè)最終過程是絕對必要的。表面粗糙度通常應(yīng)在 Ra 當(dāng)前標(biāo)準(zhǔn)測量方法的局限性是砂輪與其大量單刀刃的相互作用,與硅表面經(jīng)歷不均...